Конфокальные микроскопы Leica DCM 3D

Конфокальные микроскопы Leica DCM 3D

Система DCM 3D с двухъядерной технологией была разработана для быстрой неинвазивной оценки микро- и наноструктур технических поверхностей в различных конфигурациях.

В DCM 3D совмещены технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии, что позволяет высокоскоростную регистрацию изображений с очень высоким разрешением до 0,1 нм.

При этом, конфокальная технология микро-отображения, не имеющая движущихся частей, может анализировать самые различные материалы и выдает одновременно с конфокальными изображеними изображения светлого поля.

Конфокальная микроскопия и интерферометрия

Конфокальная микроскопия и интерферометрия – две технологии в одном приборе, позволяющие проводить быстрые измерения с разрешением до 0.1нм.

Интерферометрия PSI и VSI

Интерферометрия PSI и VSI позволяет проводить высокоточные измерения гладких поверхностей с суб-нанометровым разрешением.

Совмещенная конфокальная технология

Совмещенная конфокальная технология – отображение конфокального и светлопольного изображения одной и той же области одновременно.

Подготовка образцов не требуется

Быстрые, неразрушающие 3D измерения – и в отличие от SEM, не требующие подготовки образцов.